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Above 2000 V breakdown voltage at 600 K GaN-on-silicon high electron mobility transistors
600K硅上GaN高电子迁移率晶体管击穿电压高于2000V
相关领域
材料科学
光电子学
击穿电压
晶体管
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硅
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期刊:physica status solidi (a) 作者:Nicolas Herbecq; Isabelle Roch‐Jeune; Astrid Linge; Malek Zegaoui; Pierre-Olivier Jeannin; et al 出版日期:2016-01-08 |
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