标题 |
Industrial Czochralski n‐type Silicon Wafers: Gettering Effectiveness and Possible Bulk Limiting Defects
工业直拉n型硅片:吸杂效果和可能的体积限制缺陷
相关领域
吸气剂
薄脆饼
限制
硅
材料科学
光电子学
直拉法
工程类
机械工程
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Solar RRL 作者:Tien T. Le; Yalun Cai; Zhongshu Yang; Ran Chen; Daniel Macdonald; et al 出版日期:2024-03-01 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|