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Mapping materials properties with Raman spectroscopy utilizing a 2-D detector
利用二维探测器用拉曼光谱绘制材料性质
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期刊:Applied Optics 作者:D. Kirk Veirs; Joel W. Ager; Eric T. Loucks; Gerd M. Rosenblatt 出版日期:1990-11-20 |
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