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A 12-bit single slope ADC with multi-step structure and ramp calibration technique for image sensors
用于图像传感器的12位单斜率多步结构ADC及斜坡标定技术
相关领域
微分非线性
比较器
积分非线性
最低有效位
线性
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CMOS芯片
电压
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电气工程
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期刊:Microelectronics Journal 作者:Hao Li; Dongsheng Li; Yingxiang Liang; Ang Hu; Zheng Nie; et al 出版日期:2023-09-01 |
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