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Characterization of Mg0.20Zn0.80O metal–semiconductor–metal photodetectors
Mg0.20Zn 0.80 O金属-半导体-金属光电探测器的表征
相关领域
材料科学
光电探测器
光电子学
电极
半导体
金属
溅射
表征(材料科学)
纳米技术
薄膜
冶金
化学
物理化学
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其它 |
期刊:Materials Science and Engineering B 作者:Dayong Jiang; Xiyan Zhang; Quansheng Liu; Zhaohui Bai; Liping Lü; et al 出版日期:2010-06-26 |
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