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Reliability Analysis of Load-Sharing Systems Subject to Dependent Degradation Processes and Random Shocks
受相依退化过程和随机冲击的均载系统可靠性分析
相关领域
可靠性(半导体)
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期刊:IEEE Access 作者:Haiyang Che; Shengkui Zeng; Jianbin Guo 出版日期:2017-01-01 |
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