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 A combined 2ω/3ω method for the measurement of the in-plane thermal conductivity of thin films in multilayer stacks: Application to a silicon-on-insulator wafer 测量多层堆叠中薄膜面内热导率的2 ω/3 ω组合方法：在绝缘体上硅晶片上的应用
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：F. Mazzelli; Jessy Paterson; Frédéric Leroy; Olivier Bourgeois 出版日期：2025-01-03 |
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