| 标题 |
 Investigation of total ionizing dose effects in 4H–SiC power MOSFET under gamma ray radiation γ辐射下4H-SiC功率MOSFET总电离剂量效应的研究
相关领域
电离辐射
吸收剂量
辐射
阈值电压
材料科学
光电子学
MOSFET
电容
辐照
电压
伽马射线
晶体管
辐射损伤
抗辐射性
电气工程
化学
物理
光学
核物理学
电极
物理化学
工程类
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Radiation physics and chemistry 作者：Yabin Sun; Xin Wan; Ziyu Liu; Jin Hu; Junzheng Yan; et al 出版日期：2022-08-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
乐乐乐乐乐乐
shinysparrow
嗯哼
带头大哥
大模型
xiaochou
Cz志生
穆紫
平常的过客
#include
minya
艾文
鬼见愁
脑洞疼
香蕉觅云
情怀
领导范儿
Diplogen
cc
银色的喵咪
皖公网安备34019202002308
