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 Atomic-resolution transmission electron microscopy of electron beam–sensitive crystalline materials 电子束敏感晶体材料的原子分辨透射电子显微镜
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期刊：Science 作者：Daliang Zhang; Yihan Zhu; Lingmei Liu; Xiangrong Ying; Chia‐En Hsiung; et al 出版日期：2018-01-18 |
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