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Electron Trapping at Point Defects on Hydroxylated Silica Surfaces
羟基氧化二氧化硅表面点缺陷处的电子俘获
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期刊:Physical Review Letters 作者:Livia Giordano; Peter V. Sushko; Gianfranco Pacchioni; Alexander L. Shluger 出版日期:2007-09-24 |
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