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 Characterization of SiN/SiO2 based MEMS-VCSEL at 1550 nm for optical coherence tomography 用于光学相干层析成像的1550 nm SiN/SiO2基MEMS-VCSEL的表征
相关领域
光学相干层析成像
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微电子机械系统
光学
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期刊： 作者：Irene Rodriguez Lamoso; Alejandro Martínez Jiménez; Julijan Cesar; Sascha Preu; Adrian Gh. Podoleanu 出版日期：2023-01-24 |
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