标题 |
Measurement of the effective refractive index of silicon-on-insulator waveguide using Mach–Zehnder interferometers
用Mach-Zehnder干涉仪测量绝缘体上硅波导的有效折射率
相关领域
马赫-曾德尔干涉仪
绝缘体上的硅
天文干涉仪
折射率
硅
硅光子学
波导管
材料科学
光学
光电子学
干涉测量
物理
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