标题 |
Effects of annealing conditions on structural and ferroelectric properties of CeO2-HfO2 solid solution thin films on InAs substrates fabricated by chemical solution deposition
退火条件对化学溶液沉积InAs衬底上CeO2-HfO2固溶体薄膜结构和铁电性能的影响
相关领域
铁电性
退火(玻璃)
材料科学
薄膜
单斜晶系
正交晶系
固溶体
光电子学
极化(电化学)
化学工程
分析化学(期刊)
纳米技术
电介质
复合材料
结晶学
晶体结构
冶金
化学
有机化学
物理化学
工程类
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Journal of alloys and compounds 作者:Shuaizhi Zheng; Jing Chen; Zhaotong Liu; Puqi Hao; Qing Yang; et al 出版日期:2023-12-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|