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 High Performance and Stability of Double-Gate Hf–In–Zn–O Thin-Film Transistors Under Illumination 光照下双栅Hf-In-Zn-O薄膜晶体管的高性能和稳定性
相关领域
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期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Joon Seok Park; Kyoung Seok Son; Tae Sang Kim; Ji Sim Jung; Kwanghee Lee; et al 出版日期：2010-07-19 |
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