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作者
Hyunjun Park,Woojoong Jung,Minsu Kim,Hyung‐Min Lee
出处
期刊:IEEE Journal of Solid-state Circuits
[Institute of Electrical and Electronics Engineers]
日期:2023-06-07
卷期号:58 (10): 2696-2708
被引量:7
标识
DOI:10.1109/jssc.2023.3279843
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