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作者
Peter K. H. Ho,Lay‐Lay Chua,Dipankar Mandal,Xingyu Gao,Dongchen Qi,Andrew T. S. Wee,Jui-Fen Chang,Richard H. Friend
标识
DOI:10.1002/adma.200601285
摘要
The orientation and π-interaction of the frontier layers of regioregular poly(3-hexylthiophene) at both the air and substrate interfaces are directly measured for the first time using near-edge X-ray absorption fine-structure spectroscopy for thin films cast from a series of solvents (see figure). Results suggest the already high hole mobility in this material is still substantially limited by disorder at the interfaces.
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