Sintering mechanism of Ag-Pd nanoalloy film for power electronic packaging

材料科学 合金 烧结 图层(电子) 离子键合 化学工程 纳米颗粒 复合材料 电化学 表层 纳米技术 物理化学 化学 离子 有机化学 催化作用 工程类 电极
作者
Qiang Jia,Guisheng Zou,Hongqiang Zhang,Wengan Wang,Hui Ren,A Zhanwen,Zhongyang Deng,Shaohua Yan,Daozhi Shen,Lei Liu
出处
期刊:Applied Surface Science [Elsevier BV]
卷期号:554: 149579-149579 被引量:22
标识
DOI:10.1016/j.apsusc.2021.149579
摘要

Silver electrochemical migration causing short-circuit could be mitigated by Ag-Pd alloy. The conventional mechanical mixed Ag and Pd nanoparticles requires high alloying temperature as high as 850 °C. In this work, Ag20Pd nanoalloy film is prepared using pulsed laser deposition under room temperature as die attach material. After low temperature bonding at 300 °C, the bondline keeps in Ag20Pd alloyed state with a shear strength of 23.5 MPa (higher than MIL-STD-883 K, 7.8 MPa). The Ag20Pd nanoalloy exhibits superior resistance to Ag ionic migration with short-circuit time tripled than pure Ag sintered layer. A Ag-rich layer appears on the surface of Ag-Pd nanoalloy, although the Ag-Pd is the typical isomorphous alloy system. Molecular dynamics simulation reveals that Ag atoms (214.0 kJ/mol) diffuse easier than that of Pd atoms (234.6 kJ/mol) on the nanoalloy surface layer, while showing similar mobility for inner nanoalloy. The Ag-rich layer consisting of dynamic exchanging atoms has a prewetting effect and contributes to the neck formation among nanoparticles. This work sheds light on the sintering mechanism of Ag-Pd nanoalloy, and it is confirmed that Ag-Pd nanoalloy is promising for low temperature bonding in terms of the high reliability power electronic.
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