Domain Pinning: Comparison of Hafnia and PZT Based Ferroelectrics

哈夫尼亚 铁电性 材料科学 锆钛酸铅 凝聚态物理 磁滞 扩散 极化(电化学) 空位缺陷 氧化物 化学物理 纳米技术 立方氧化锆 光电子学 电介质 复合材料 热力学 物理化学 冶金 物理 化学 陶瓷
作者
Franz P. G. Fengler,Milan Pešić,Sergej Starschich,Theodor Schneller,Christopher Künneth,U. Böttger,Halid Mulaosmanovic,Tony Schenk,Min Hyuk Park,Robin Nigon,Paul Muralt,Thomas Mikolajick,Uwe Schroeder
出处
期刊:Advanced electronic materials [Wiley]
卷期号:3 (4) 被引量:112
标识
DOI:10.1002/aelm.201600505
摘要

Even though many studies on the field cycling behavior of ferroelectric hafnium oxide have recently been published, the issue is still not fully understood. The initial increase of polarization during first cycles is explained by different theoretical and empirical approaches. Field‐induced phase changes as well as oxygen vacancy diffusion from interfacial layers toward the bulk are discussed. Trapped charges as well as the mentioned oxygen vacancy diffusion might cause a shift of the hysteresis along the voltage axis called imprint. Even though various studies connect this effect to charge diffusion with progression of cycling, a final experimental proof for the origin of wake‐up and imprint is still missing. Based on the comprehensive comparative study of hafnia–zirconia and iron‐doped lead zirconate titanate ferroelectrics, it is verified that the diffusion of oxygen vacancies is the main cause for both imprint and wake‐up. Moreover, it is shown that a local seed inhibition of ferroelectric domains is most likely responsible for the reduced ferroelectric response in pristine state.
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