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2024-09-18 加入
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Characterization and formation mechanism of short step-bunching defects on 4H-SiC thick homoepitaxial films
21天前
已完结
Characterization and formation mechanism of short step-bunching defects on 4H-SiC thick homoepitaxial films
2个月前
已完结
没有进行任何应助
请帮忙下载论文附件,Supplementary material
21天前
你好,可以帮忙把Supplementary material也下载一下吗?
21天前
感谢
2个月前
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