标题 |
Model for surface topography prediction in the ultra-precision grinding of silicon wafers considering volumetric errors
考虑体积误差的硅片超精密磨削表面形貌预测模型
相关领域
薄脆饼
研磨
材料科学
曲面(拓扑)
硅
光电子学
冶金
几何学
数学
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其它 |
期刊:Measurement 作者:Yindi Cai; Yang Yang; Yuxuan Wang; Ronghao Wang; Xiaolei Zhu; et al 出版日期:2024-05-01 |
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