| 标题 |
 A piezoelectric-driven nanoindentation system for scanning electron microscope with improved analog compensation method 改进模拟补偿法的压电驱动扫描电子显微镜纳米压痕系统
相关领域
纳米压痕
压电
应变计
材料科学
传感器
惠斯通大桥
扫描电子显微镜
半导体
矩形
光学
放大器
纳米发生器
压电系数
光电子学
声学
电压
复合材料
电气工程
CMOS芯片
物理
工程类
几何学
数学
电阻器
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Review of Scientific Instruments 作者：Sen Gu 出版日期：2024-02-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接，等待应助者上传 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
毛豆
爱静静
123
嘉心糖
小鱼爱吃肉
yar
杳鸢
iNk
丰知然
maox1aoxin
pluto
8R60d8
sissiarno
从容芮
子车茗
fillippo99
mhl11
坚强的广山
shinysparrow
tuanheqi
皖公网安备34019202002308
