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Reliability analysis under bias stress and elevated temperature of dual-gate IGZO TFT
双栅IGZO TFT在偏压和高温下的可靠性分析
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期刊:AIP Advances 作者:Jingxuan Wei; Nannan Li; Yu Zhang; Xuefeng Wu; Jiyuan Zhu; et al 出版日期:2024-11-01 |
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