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  Investigation of Negative Bias Temperature Instability Effect in Nano PDSOI PMOSFET 纳米PDSOI PMOSFET负偏压温度不稳定效应的研究
相关领域
负偏压温度不稳定性
跨导
材料科学
阈值电压
绝缘体上的硅
降级（电信）
MOSFET
光电子学
压力（语言学）
硅
电气工程
电压
晶体管
工程类
语言学
哲学
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期刊：Micromachines 作者：Yafang Yang; Hongxia Liu; Kun Yang; Zihou Gao; Terry Z. Liu 出版日期：2022-05-23 |
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