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 Facet-dependent electrical conductivity properties of a 4H-SiC wafer 4H-SiC晶片的刻面相关导电性能
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期刊：Journal of Materials Chemistry C 作者：Gautam Kumar; Jingwei Chen; Hsueh‐Heng Ma; Xing-Fu Huang; Michael H. Huang 出版日期：2022-01-01 |
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