标题 |
Electrical properties of a-IGZO TFT with various annealing temperature
不同退火温度下a-IGZO薄膜晶体管的电学性能
相关领域
退火(玻璃)
薄膜晶体管
材料科学
工程物理
冶金
工程类
复合材料
图层(电子)
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DOI |
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其它 |
期刊: 作者:Yun Henq Hsieh; Menq Chun Chen; Sheng Chu 出版日期:2015-01-01 |
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