标题 |
Deciphering prefrontal circuits underlying stress and depression: exploring the potential of volume electron microscopy
解读压力和抑郁背后的前额叶回路:探索体积电子显微镜的潜力
相关领域
前额叶皮质
神经科学
扣带回前部
慢性应激
背外侧前额叶皮质
心理学
生物神经网络
消费者神经科学
皮质(解剖学)
细胞结构
认知
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Microscopy 作者:Hirotaka Nagai 出版日期:2024-07-24 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|