Grown-in defects and thermal instability affecting the reliability of lasers: III–Vs versus III-nitrides

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标题	Grown-in defects and thermal instability affecting the reliability of lasers: III–Vs versus III-nitrides 相关领域材料科学光电子学激光器氮化物热的可靠性（半导体）
网址	https://doi.org/10.1016/B978-0-12-819254-2.00004-7
DOI	10.1016/B978-0-12-819254-2.00004-7 doi
其它	期刊：Reliability of Semiconductor Lasers and Optoelectronic Devices 作者：Osamu Ueda; Shigetaka Tomiya 出版日期：2021
求助人	鹿致远在 2022-01-14 15:49:55 发布，悬赏 20 积分
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