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 Program charge interference and mitigation in vertically scaled single and multiple-channel 3D NAND flash memory 垂直缩放单通道和多通道3D NAND闪存中的程序电荷干扰及其抑制
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期刊： 作者：Devin Verreck; A. Arreghini; G. Van den bosch; A. Furnemont; M. Rosmeulen 出版日期：2021-09-27 |
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