标题 |
Spectral interference ellipsometry for film thickness measurement on transparent substrate
光谱干涉椭偏法测量透明衬底薄膜厚度
相关领域
材料科学
椭圆偏振法
干扰(通信)
基质(水族馆)
光学
反射率
光电子学
计算机科学
薄膜
电信
纳米技术
地质学
物理
海洋学
频道(广播)
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Optics and Lasers in Engineering 作者:Jinxu Zhang; Liheng Shi; R. Zhang; Jiayang Chen; Guanhao Wu 出版日期:2023-12-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|