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Lloyd’s mirror interference lithography below a 22-nm pitch with an accessible, tabletop, 13.5 nm high-harmonic EUV source
22 nm间距以下的劳埃德镜干涉光刻,采用可访问的桌面13.5 nm高次谐波EUV源
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极紫外光刻
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期刊: 作者:Kevin M. Dorney; Sonia Castellanos; Esben W. Larsen; Fabian Holzmeier; D. P. Singh; et al 出版日期:2021-02-19 |
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