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 Resolving Issues of VTH and ILeak for P-Type LTPS TFT-Based Emission Gate Driver by Reducing Falling Time and Increasing Stabilizing Period for Smartwatch Displays 通过减少智能手表显示器的下降时间和增加稳定周期来解决基于P型LTPS TFT的发射栅极驱动器的VTH和ILeak问题
相关领域
薄膜晶体管
智能手表
坠落（事故）
电气工程
泄漏
汽车工程
工程类
计算机科学
光电子学
材料科学
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纳米技术
环境卫生
图层（电子）
环境工程
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期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Chih‐Lung Lin; Yi‐Chien Chen; Po-Cheng Lai; Jui‐Hung Chang; Ting-Hsun Wei; et al 出版日期：2024-03-01 |
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