标题 |
High-Precision Wafer Bonding Alignment Mark Using Moiré Fringes and Digital Grating
基于莫尔条纹和数字光栅的高精度晶片键合对准标记
相关领域
云纹
栅栏
薄脆饼
光学
偏移量(计算机科学)
材料科学
晶片键合
光电子学
计算机科学
物理
程序设计语言
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其它 |
期刊:Micromachines 作者:Jianhan Fan; Sen Lu; Jianxiao Zou; Yang Kai-ming; Yu Zhu; et al 出版日期:2022-12-07 |
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