标题 |
Fast lithographic mask optimization considering process variation
考虑工艺变化的快速光刻掩模优化
相关领域
工艺变化
进程窗口
光学接近校正
平版印刷术
计算机科学
过程(计算)
GSM演进的增强数据速率
灵敏度(控制系统)
趋同(经济学)
电子工程
材料科学
光电子学
工程类
人工智能
经济
经济增长
操作系统
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网址 | |
DOI |
10.5555/2691365.2691413
doi
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其它 |
期刊:International Conference on Computer Aided Design 作者:Yu-Hsuan Su; Yu-Chen Huang; Liang-Chun Tsai; Yao‐Wen Chang; Shayak Banerjee 出版日期:2014-11-03 |
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