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Relative lifetime estimation of EUV pellicle by normalized thermal stress
用归一化热应力估算EUV薄膜的相对寿命
相关领域
极紫外光刻
压力(语言学)
估计
热的
材料科学
计算机科学
物理
光电子学
工程类
热力学
语言学
哲学
系统工程
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期刊: 作者:Ji-Hyun Jeon; Jiwon Kang; Hee-Chang Ko; Seung Woo Son; Hye-Keun Oh 出版日期:2024-09-30 |
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