标题 |
Studies of density and surface roughness of ultrathin amorphous carbon films with regards to thickness with x-ray reflectometry and spectroscopic ellipsometry
用x射线反射法和椭偏光谱法研究超薄非晶碳膜的密度和表面粗糙度与厚度的关系
相关领域
X射线反射率
材料科学
反射计
椭圆偏振法
表面粗糙度
表面光洁度
无定形固体
薄膜
基质(水族馆)
分析化学(期刊)
碳膜
中子反射计
光学
复合材料
散射
结晶学
纳米技术
化学
海洋学
物理
地质学
小角中子散射
中子散射
时域
计算机视觉
色谱法
计算机科学
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