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An Investigation of Field-Effect Passivation Layer Characteristics Using Second Harmonic Generation Measurement
利用二次谐波产生测量研究场效应钝化层特性
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钝化
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期刊:IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 作者:Sung-Kun Park; Lei Ming; Youngwoong Do; Minki Choi; Jong‐Hun Kim 出版日期:2019-10-22 |
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