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P‐5: Reduction of Mura Defects by Controlling the Mechanism of NBTIS of Amorphous‐Oxide TFTs
P-5:通过控制非晶氧化物TFT的NBTIS的机理来减少Mura缺陷
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期刊:SID Symposium Digest of Technical Papers 作者:Xiaona Xu; Qin Wei; Tieshi Wang; Wangpeng Teng; Yinglong Huang; et al 出版日期:2017-05-01 |
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