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 Focused ion beam preparation of halide perovskite microscopy specimens: evaluation of the beam induced damage 聚焦离子束制备卤化物钙钛矿显微镜样品：束诱导损伤的评估
相关领域
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材料科学
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期刊：Journal of Physics: Condensed Matter 作者：Lu Yuan; Hao Wang; Yi Chen; Akriti Akriti; Xiangchen Hu; et al 出版日期：2022-08-05 |
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