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Power cycling tests under driving ΔTj = 125 °C on the Cu clip bonded EV power module
驱动Δ Tj=125°C下铜夹焊电动车电源模块的功率循环试验
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Dong-Jin Kim; Byeongsoo Lee; Tae-Ik Lee; Seungjun Noh; Chanyang Choe; et al 出版日期:2022-11-01 |
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