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 TD‐YOLO: A Lightweight Detection Algorithm for Tiny Defects in High‐Resolution PCBs TD-YOLO：高分辨率PCB微小缺陷的轻量级检测算法
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期刊：Advanced theory and simulations 作者：Ling Qin; Nor Ashidi Mat Isa 出版日期：2023-12-22 |
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