标题 |
Understanding the electric field dependent channel migration for shorter channel length of multilayer rhenium disulfide (ReS2) FETs
了解多层二硫化铼(ReS2)场效应晶体管较短沟道长度的电场相关沟道迁移
相关领域
材料科学
电阻器
电导
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电场
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排水诱导屏障降低
信道长度调制
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其它 |
期刊:Nanotechnology 作者:Hyeong Jin Choi; Y. J. Choi; Gyu‐Tae Kim 出版日期:2024-12-02 |
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