标题 |
New x-ray scattering from polymers and its quantum profile analysis applied to materials characterization
新的聚合物x射线散射及其量子分布分析在材料表征中的应用
相关领域
物理
康普顿散射
康普顿波长
原子物理学
光子
散射
电子
量子力学
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DOI | |
其它 |
期刊:Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者:B. Mallick 出版日期:2001-07-16 |
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