标题 |
Influence of interfacial interaction on the reliability of the bond between encapsulation epoxy and copper substrate
界面相互作用对封装环氧树脂与铜基体键合可靠性的影响
相关领域
环氧树脂
材料科学
铜
封装(网络)
温度循环
复合材料
热的
冶金
计算机科学
物理
气象学
计算机网络
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其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:Shuaijie Zhao; Chuantong Chen; Motoharu Haga; Minoru Ueshima; Hirose Suzuki; et al 出版日期:2023-08-31 |
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