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 P‐1.4: Analysis of the Hump Characteristics in Poly‐Si Thin Film Transistor & Process a method to suppress hump effect P-1.4：多晶硅薄膜晶体管驼峰特性分析&抑制驼峰效应的方法
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期刊：Sid's Digest Of Technical Papers 作者：Yiyu Guo; You Pan; Hongxia Lu; Shengmei Tan; Ronglei Dai; et al 出版日期：2022-10-01 |
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