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 Correlation between hydroxyl fraction and O/Al atomic ratio as determined from XPS spectra of aluminium oxide layers 氧化铝层XPS光谱测定羟基含量与O/Al原子比的相关性
相关领域
X射线光电子能谱
覆盖层
氧化物
铝
分析化学（期刊）
化学
氧化铝
氧化铝
氧化铝
氧化剂
无机化学
材料科学
物理化学
冶金
化学工程
有机化学
催化作用
工程类
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期刊：Surface and Interface Analysis 作者：Jeroen van den Brand; W.G. Sloof; Herman Terryn; J.H.W. de Wit 出版日期：2004-01-01 |
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