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 Graph Embedding and Optimal Transport for Few-Shot Classification of Metal Surface Defect 图嵌入和最优传输在金属表面缺陷小镜头分类中的应用
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期刊：IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者：Weiwei Xiao; Kechen Song; Jie Liu; Yunhui Yan 出版日期：2022-01-01 |
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