标题 |
High-speed and accurate cascade detection method for chip surface defects
芯片表面缺陷的高速精确级联检测方法
相关领域
过度拟合
人工智能
目标检测
计算机科学
探测器
级联
炸薯条
模式识别(心理学)
分类器(UML)
特征提取
人工神经网络
工程类
电信
化学工程
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