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 I–V characteristics of tantalum oxide film and the effect of defects on its electrical properties 氧化钽薄膜的I-V特性及缺陷对其电学性能的影响
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期刊：Thin Solid Films 作者：Chao Wang; Ling Fang; Gong Zhang; Daming Zhuang; Minsheng Wu 出版日期：2004-02-07 |
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