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 Interface modeling analysis using density functional theory in highly reliable Pt/HfO2/TaOx/Ta self-rectifying memristor 高可靠Pt/HfO2/TaOx/Ta自整流忆阻器的密度泛函界面模拟分析
相关领域
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Sheng‐Guang Ren; Ge‐Qi Mao; Yi-Bai Xue; Yu Zhang; Jiayi Sun; et al 出版日期：2024-09-16 |
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