标题 |
Internal Gettering of Copper for Microelectronic Applications
微电子应用中铜的内部吸气
相关领域
吸气剂
材料科学
微电子
薄脆饼
铜
杂质
污染
冶金
光电子学
化学
生态学
生物
有机化学
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其它 |
期刊:Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena/Solid state phenomena 作者:G. Kissinger; Dawid Kot; Markus Andreas Schubert; A. Sattler; Timo Müller 出版日期:2015-10-23 |
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